SN74BCT8373ANT
僅供參考
| 型號 | SN74BCT8373ANT |
| PNEDA編號 | SN74BCT8373ANT |
| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 單價 | 請求報價 |
| 庫存 | 6,696 |
| 倉庫 | Shipped from Hong Kong SAR |
| 預計交貨 | 五月 17 - 五月 22 (選擇加急運輸) |
| Guarantee | 可達壹年的[PNEDA-Warranty]* |
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SN74BCT8373ANT資源
| 品牌 | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| 制造商零件編號 | SN74BCT8373ANT |
| 類別 | 半導體 › 邏輯IC › 邏輯-專業邏輯 |
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SN74BCT8373ANT規格
| 制造商 | |
| 系列 | 74BCT |
| 邏輯類型 | Scan Test Device with D-Type Latches |
| 電源電壓 | 4.5V ~ 5.5V |
| 位數 | 8 |
| 工作溫度 | 0°C ~ 70°C |
| 安裝類型 | Through Hole |
| 包裝/箱 | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| 供應商設備包裝 | 24-PDIP |
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