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SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DW

僅供參考

型號 SN74ABT8245DW
PNEDA編號 SN74ABT8245DW
描述 IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
制造商 Texas Instruments
單價 請求報價
庫存 23,076
倉庫 Shipped from Hong Kong SAR
預計交貨 五月 17 - 五月 22 (選擇加急運輸)
Guarantee 可達壹年的[PNEDA-Warranty]*

SN74ABT8245DW資源

品牌 Texas Instruments
ECAD Module ECAD
制造商零件編號SN74ABT8245DW
類別半導體邏輯IC邏輯-專業邏輯

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SN74ABT8245DW規格

制造商
系列74ABT
邏輯類型Scan Test Device with Bus Transceivers
電源電壓4.5V ~ 5.5V
位數8
工作溫度-40°C ~ 85°C
安裝類型Surface Mount
包裝/箱24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供應商設備包裝24-SOIC

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